MiniTest 720/730/740涂層測厚儀-德國EPK
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| 報 價： |  |
| 更新時間： | 2023-11-12 |
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MiniTest 720/730/740涂層(ceng)測厚儀(yi)-德國EPK生產所有(you)MiniTest 700探頭都(dou)可(ke)以對(dui)不規則形(xing)狀表面做出補償(chang)。當您(nin)在無涂層(ceng)基(ji)體上(shang)校零時(shi)(shi)，整個(ge)量(liang)程范圍都(dou)在這個(ge)特定的(de)形(xing)狀和(he)材(cai)料基(ji)礎上(shang)進行校準(zhun)。為節省您(nin)的(de)時(shi)(shi)間和(he)金(jin)錢，儀(yi)器預設(she)了大量(liang)校準(zhun)方法，適用于(yu)各(ge)種表面情況(kuang)和(he)精度要求。您(nin)可(ke)選(xuan)擇出廠校準(zhun)，零點校準(zhun)，2點校準(zhun)和(he)3點校準(zhun)。
- 產品描述
德國EPK MiniTest 720/730/740涂層測厚儀
-創新的SIDSP（探頭內部數字信號處理）技術提升了測量的精確性
-測量范圍達15mm，可更換F、N或FN探頭，供內置或外接探頭使用
-FN探頭自動識別F（鐵磁性）或N（非磁性）基體，操作方便不易出錯
SIDSP技術-技術，智能數字化的涂層測厚探頭
模擬信號處理時代已成過去，數字信號處理將成為未來的趨勢
MiniTest 720/730/740涂層測厚儀采用的SIDSP是什么？
SIDSP是由ElektrPhysik（簡稱EPK）研發的，世界〇先的涂層測厚探頭技術。EPK此項技術為涂層測厚領域的創新奠定了新標準。
SIDSP即探頭內部數字信號處理，這項技術使探頭在測量時，同時在探頭內部將信號*處理為數字形式。SIDSP探頭*依據世界*技術生產。
MiniTest 720/730/740涂層測厚儀的SIDSP工作原理？
跟傳統技術不同，SIDSP在探頭頂部產生和控制激發信號，回傳的信號經過32位數字轉換和處理，帶給您精確的涂層厚度值。此項*的數字處理技術，同時應用在現代通訊技術（手機網絡）方面，如數字濾波器，基帶轉換，平均值，隨機分析，等等。此項技術能獲得與模擬信號處理*的信號質量和精確度。厚度值通過探頭電纜數字化傳輸到顯示裝置。
SIDSP探頭與普通模擬探頭相比，具有決定性的優勢，為涂層測厚設定了一個新的標準。
MiniTest 720/730/740涂層測厚儀為什么選擇SIDSP？
SIDSP探頭具有*的抗干擾性
任何與測量相關的信號，都由SIDSP在靠近探頭頂部的位置進行處理。測量信號不會通過探頭電纜傳輸時受到干擾，因為不再有測量信號的傳輸。探頭電纜僅僅為探頭供電，并傳輸數字化的厚度值到顯示裝置。即使您的測量工件需要特別長的電纜線也沒問題，加長的電纜線同樣具有*的抗干擾能力。
MiniTest 720/730/740涂層測厚儀SIDSP-測量信號高穩定性
EPK的SIDSP探頭具有*的重現性。將探頭放在同一測量點測量幾次，每次您都可以得到基本一樣的結果，再次證明了SIDSP探頭的優秀性能。
MiniTest 720/730/740涂層測厚儀高精確度的SIDSP探頭特征曲線
在生產過程中，EPK的SIDSP探頭要經過嚴格的校準。一般的模擬探頭只會在特征曲線上選幾個點來校準，但SIDSP探頭不同：由于是全自動化過程，探頭在50個點上進行校準，大大降低了特征曲線的偏離。因此特征曲線在整個量程范圍內都十分精準，將測量錯誤降至zui低。
MiniTest 720/730/740涂層測厚儀SIDSP探頭對溫度變化不敏感
在生產過程中，對每個SIDSP探頭都進行了溫度補償的編碼，這對于模擬探頭是根本不可能實現的。這樣溫度改變就不會影響測量，與溫度相關的錯誤不會在SIDSP探頭上發生！
MiniTest 720/730/740涂層測厚儀SIDSP探頭適應性強
需要快速測量幾個點嗎？只要開啟快速測量模式，探頭自動轉換到特定設置。想進行高精度測量嗎？沒問題，只要選擇高精度模式，儀器同樣能自動轉換。不論您要求測量單個數值還是連續測量，SIDSP都能完成您的選擇！
MiniTest 720/730/740涂層測厚儀SIDSP N和FN型探頭基體導電性補償
由于使用了EPK特殊的自動補償方法，SIDSP電渦流探頭可以適應多種導電性不同的非鐵基體材料，如銅，鈦，等等，無需特別在基體上校準儀器。
MiniTest 720/730/740涂層測厚儀SIDSP-未來解決方案
EPK將繼續改進SIDSP技術以滿足客戶的需求。您可以從EPK的進行免費的軟件升級，使您的SIDSP探頭總是版本。
MiniTest 720/730/740涂層測厚儀及SIDSP
新的MiniTest 700產品線，加強了EPK在涂層測厚市場的.
有了新的(de)(de)SIDSP F型(xing)探(tan)頭（測量鐵(tie)基(ji)體(ti)(ti)）和(he)N型(xing)探(tan)頭（測量非鐵(tie)基(ji)體(ti)(ti)），您(nin)可(ke)享受到高精(jing)確(que)度和(he)高重現(xian)性帶(dai)給您(nin)的(de)(de)優勢和(he)便利。新的(de)(de)MiniTest 700可(ke)以解決您(nin)所有涂(tu)層厚度問題，而產(chan)品優質的(de)(de)外觀是您(nin)長(chang)期價值(zhi)和(he)成(cheng)功的(de)(de)關鍵，比如汽(qi)車、造(zao)船(chuan)、鋼鐵(tie)、橋梁建筑，或(huo)電鍍(du)等行業。
MiniTest 720/730/740涂層測厚儀增加了測量速度設置選項
MINITEST 700可以讓您輕松變換測量需求。在對精度要求不高的條件下，您可以短時間測量大量數值；也可以只測量少數幾個數值，但要求精度很高，您只需選擇相應的模式就可以做到。測量值超過您所設定的極限值時，儀器會報警，保證您即使在快速模式下也不會錯過任何信息。儀器具備聲、光報警，在極限范圍內用綠色LED燈表示，超過極限值則用紅色LED燈提示。
MiniTest 720/730/740涂層測厚儀使用簡單方便
MiniTest 700按照人體工學設計，外形很適合人手掌握。為了質量控制和檢驗的靈活性，MINITEST 740可以輕易由內置探頭變換為外置探頭，方便測量難以到達的部位。MINITEST 700系列可以滿足您所有涂層測量需求：如果您想單手測量，可以選擇內置探頭的720。730則是外置探頭的。所有型號都配有一個超大、背光的顯示屏，顯示內容可以180度旋轉，方便您讀取數據。
預設選項節省您的時間和金錢
所有MiniTest 700探頭都可以對不規則形狀表面做出補償。當您在無涂層基體上校零時，整個量程范圍都在這個特定的形狀和材料基礎上進行校準。為節省您的時間和金錢，儀器預設了大量校準方法，適用于各種表面情況和精度要求。您可選擇出廠校準，零點校準，2點校準和3點校準。另外，還有針對不同粗糙程度的粗糙度校準。FN探頭自動識別基體類型避免操作者犯錯。為適應銷售需要，MINITEST 700滿足各種標準：SSPC-PA2，ISO，瑞典（SS184160），澳大利亞（AS 3894.3），ISO 19840和ASTM D7091（以前的D1186和D1400）。
MMiniTest 720/730/740涂層測厚儀優點一覽：
-SIDSP使測量不受干擾，測值更加精確
-可更換探頭使用更加靈活（MINITEST 740探頭可由內置換為外置）
-FN探頭自動識別基體，使測量更迅速，避免操作錯誤
-溫度補償功能避免溫度變化引起的錯誤
-生產過程中50點校準使儀器獲得高精確度的特征曲線
-大存儲量，能存儲10或100組多達100,000個讀數
-讀數和統計值能單獨調出
-超大，背光顯示屏，顯示內容可180度旋轉
-菜單指引操作，25種語言可選
-帶IrDA接口，紅外線傳輸數據到打印機和PC
-可下載更新軟件
MiniTest 720/730/740涂層測厚儀標準配置： 推薦配件:
帶塑料手提箱，內含： -F1.5/N0.7/FN1.5探頭用測量支架
-MiniTest 720(內置探頭)
--或MiniTest 730（外置探頭）
--或MiniTest 740主機（不含探頭，有各種探頭可選）
-校準套裝含校準片和零板
-操作使用說明CD，德語、英語、法語、西班牙語
-2節AA電池
MiniTest 720/730/740涂層測厚儀技術數據表
SIDSP探頭
探頭 特性 | F1.5，N0.7，FN1.5 | F2 | F5，N2.5，FN5 | F15 | ||
F | N | F | F | N | F | |
測量范(fan)圍(wei) | 0-1.5mm | 0-0.7mm | 0-2mm | 0-5mm | 0-2.5mm | 0-15mm |
使(shi)用范圍(wei) | 小工件，薄涂(tu)層，跟測量支(zhi)架(jia)一起(qi)使用 | 粗糙表(biao)面 | 標準探頭，使(shi)用廣泛(fan) | 厚涂層(ceng) | ||
測量原理 | 磁感應 | 電渦流 | 磁感應 | 磁感應 | 電渦流 | 磁感應 |
信(xin)號處理(li) | 探頭內(nei)部32位信號處理（SIDSP） | |||||
精確度 | ±（1μm+0.75%讀值） | ±（1.5μm+0.75%讀值(zhi)） | ±（5μm+0.75%讀值） | |||
重復性 | ±（0.5μm+0.5%讀值） | ±（0.8μm+0.5%讀值） | ±（2.5μm+0.5%讀值） | |||
低端分辨率 | 0.05μm | 0.1μm | 1μm | |||
zui小曲率半(ban)徑（凸） | 1.0mm | 1.5mm | 5mm | |||
zui小曲(qu)率(lv)半(ban)徑(jing)（凹，外置探頭） | 7.5mm | 10mm | 25mm | |||
zui小(xiao)曲率半(ban)徑（凹，內置探頭） | 30mm | 30mm | 30mm | |||
zui小測量面(mian)積 | Φ5mm | Φ10mm | Φ25mm | |||
zui小基體厚度 | 0.3mm | 40μm | 0.5mm | 0.5mm | 40μm | 1mm |
連續模式下測(ce)量速度 | 每秒(miao)20個讀數 | |||||
單值模式下zui大(da)測量速度 | 每(mei)分(fen)鐘70個讀數 | |||||
MiniTest 720/730/740涂層測厚儀主機
型號 特性 | MiniTest 720 | MiniTest 730 | MiniTest 740 |
探頭類型(xing) | 內置 | 外置(zhi) | 內置(zhi)外置(zhi)可換 |
數(shu)據記憶組(zu)數(shu) | 10 | 10 | 100 |
存儲數據量 | zui多10,000個 | zui多10,000個 | zui多100,000個(ge) |
統計值 | 讀值(zhi)個數(shu)，zui小值(zhi)，zui大值(zhi)，平均(jun)值(zhi)，標準方差，變異系(xi)數(shu)，組統計(ji)值(zhi)（標準設置(zhi)/自由(you)配置(zhi)） | ||
校準程(cheng)序符合標準和規范 | ISO，SSPC，瑞典標準(zhun)，澳大利亞標準(zhun) | ||
校準模式(shi) | 出廠設置校準，零點校準，2點校準，3點校準，使用者可調節補償值 | ||
極(ji)限(xian)值監控 | 聲、光報(bao)警提示超(chao)過極(ji)限 | ||
測(ce)量單(dan)位 | um，mm，cm；mils，inch，thou | ||
操作溫度(du) | -10℃-60℃ | ||
存放溫度 | -20℃-70℃ | ||
數據接口 | IrDA 1.0（紅外接口） | ||
電源 | 2節AA電池 | ||
標準(zhun) | DIN EN ISO 1461，2064，2178，2360，2808，3882，19840 | ||
體(ti)積 | 157mm x 75.5mm x 49mm | ||
重(zhong)量(liang) | 約175g | 約210g | 約175g（內置）/230g（外置） |
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