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英國Elcometer456分體式涂層測厚儀,易高456系列測厚儀

型    號：
報    價：
更新時間：
2023-11-10
訪問次數：
2020
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英國Elcometer456分體式涂層(ceng)測(ce)厚(hou)(hou)儀,易高456系列測(ce)厚(hou)(hou)儀分為4個類型：E型、B（基(ji)本(ben)型）、S（標準型）、T（高級(ji)型），Elcometer 456 分體式涂層(ceng)測(ce)厚(hou)(hou)儀提供多(duo)種(zhong)探(tan)頭，測(ce)量機動性更(geng)強。所(suo)有(you)探(tan)頭可互相更(geng)換，鐵(tie)基(ji)儀器可接(jie)(jie)受任(ren)何鐵(tie)基(ji)探(tan)頭，非(fei)鐵(tie)基(ji)儀器可接(jie)(jie)受任(ren)何非(fei)鐵(tie)基(ji)探(tan)頭，兩(liang)(liang)用儀器可接(jie)(jie)受所(suo)有(you)鐵(tie)基(ji)探(tan)頭、非(fei)鐵(tie)基(ji)探(tan)頭及兩(liang)(liang)用探(tan)頭。

  • 產品描述
品牌ELCOMETER/英國易高

英國(guo)Elcometer456分(fen)體(ti)式涂層(ceng)測(ce)厚儀,易高456系列測(ce)厚儀

英國易高Elcometer456涂層測厚儀儀器分為4個類型：E型、B（基本型）、S（標準型）、T（高級型），從zui初的易高456E型到現在的456T型，儀器功能不斷增加，456T型帶有記憶、字母數字組合記錄數據批次和藍牙傳輸功能。

英國易高Elcometer 456測量涂層厚度更快、更可靠、更準確。分體式提供多種探頭，測量機動性更強。所有(you)探(tan)(tan)(tan)頭(tou)(tou)(tou)可(ke)互相(xiang)更(geng)換，鐵基(ji)(ji)(ji)儀(yi)(yi)器(qi)可(ke)接(jie)受任(ren)何(he)鐵基(ji)(ji)(ji)探(tan)(tan)(tan)頭(tou)(tou)(tou)，非(fei)鐵基(ji)(ji)(ji)儀(yi)(yi)器(qi)可(ke)接(jie)受任(ren)何(he)非(fei)鐵基(ji)(ji)(ji)探(tan)(tan)(tan)頭(tou)(tou)(tou)，兩用儀(yi)(yi)器(qi)可(ke)接(jie)受所有(you)鐵基(ji)(ji)(ji)探(tan)(tan)(tan)頭(tou)(tou)(tou)、非(fei)鐵基(ji)(ji)(ji)探(tan)(tan)(tan)頭(tou)(tou)(tou)及兩用探(tan)(tan)(tan)頭(tou)(tou)(tou)。

 

Elcometer456鐵基分體式儀器-A456CFBSA456CFSSA456CFTS
Elcometer456非鐵(tie)基分體式儀器-A456CNBSA456CNSSA456CNTS
Elcometer456兩用分體式儀(yi)器(qi)-A456CFNFBSA456CFNFSSA456CFNFTS

英國Elcometer456涂層測厚儀的主要功能包括:

簡(jian)便易用

  • 大按(an)鍵，即使(shi)戴(dai)上手套也可方便操作
  • 多(duo)語言菜單設置
  • 高對比(bi)度彩(cai)色LCD, 并帶有(you)自動旋轉功能
  • 高、低限值指示標志
  • 工廠已校準，拆包(bao)即用

讀數準確

  • 測量精確度±1%
  • 符(fu)合(he)多(duo)項(xiang)國(guo)家及標準
  • 熱穩測量
  • 薄(bo)涂(tu)層(ceng)上(shang)讀(du)數(shu)的分辨率提高(gao)
  • 在(zai)平滑、粗糙、稀薄表面及曲面上都可準確測量

測量可靠(kao)

  • 重復性和(he)再現性強
  • 2 年主機保修期
  • 提供全套可(ke)追溯檢驗證書
  • 數據(ju)組合備日期和(he)時間標(biao)記功(gong)能

堅固

  • 密封、耐用、抗沖(chong)擊(ji)性(xing)強
  • 防(fang)塵防(fang)水，防(fang)護(hu)等級相(xiang)當于IP64
  • 顯示器抗劃性(xing)及防溶(rong)劑性(xing)強
  • 儀器及探(tan)頭結(jie)構持久耐用
  • 適合在惡劣環(huan)境下使用

高效

  • 快速讀(du)數：70+/分鐘，使用超聲/掃(sao)描探(tan)頭(tou)為：140+/分鐘
  • 多(duo)種校(xiao)準記憶(yi)
  • 字(zi)母數(shu)(shu)字(zi)組合命名數(shu)(shu)據組
  • 用(yong)戶可選校準方法
  • 與ElcoMaster™ 2.0和ElcoMaster™移動應用程序兼容

功能(neng)強大

  • 多種探(tan)頭可互換使用
  • USB和藍牙®數據輸出到iPhone*或Android™設備
  • 可(ke)分2500組存儲150000個數據(ju)
  • 能在金屬(shu)基體上測量厚(hou)度(du)達30mm（1200mils）的涂層

Elcometer 456 超聲/掃描探頭

掃描模式

選擇掃描(miao)(miao)模式*后(hou)，用(yong)戶可(ke)(ke)在(zai)整個表(biao)面區(qu)域內滑動(dong)超聲/掃描(miao)(miao)探(tan)頭(tou)。  探(tan)頭(tou)離(li)開表(biao)面時，該測(ce)厚(hou)儀顯(xian)示平均(jun)涂(tu)層厚(hou)度值、zui高(gao)厚(hou)度以(yi)及zui低厚(hou)度值。  每(mei)組三(san)個讀(du)數(shu)（平均(jun)值、高(gao)、低值）可(ke)(ke)顯(xian)示在(zai)趨勢(shi)圖(tu)上(shang)并存儲于內存中。

掃描期間，Elcometer 456顯(xian)示(shi)實時(shi)厚(hou)度讀數以及模擬柱狀圖(tu)，該圖(tu)展(zhan)示(shi)與(yu)名義(yi)厚(hou)度以及任何用戶定義(yi)限值(zhi)相關(guan)的(de)厚(hou)度。

 

自動重復模式

當超聲/掃(sao)描探頭(tou)在自動重復模式(shi)*下滑過涂層表面(mian)時，每半秒(miao)即可產生一個讀(du)數(shu)。 單個讀(du)數(shu)存儲在內(nei)存中。

以每分鐘(zhong)超過140條讀(du)數的讀(du)取率，自動重復模式可加快(kuai)檢驗(yan)大片涂(tu)層區域。

 

超聲/掃描探頭

Elcometer 456超聲(sheng)/掃(sao)描探頭具有經久耐用的(de)“卡入式(shi)”可換探頭蓋(gai)，這一革命性的(de)設計(ji)使用戶可獲取(qu)單(dan)一讀數或快速掃(sao)描大塊表面(mian)區域，而不會損壞探頭或涂(tu)層(ceng)。

在Elcometer 456掃描或自動重復(fu)模式(shi)*下，超聲/掃描探頭可使用戶在確(que)保精確(que)度的條(tiao)件下，大大減少檢測時(shi)間(jian)。

超聲/掃描探頭(tou)使用(yong)補(bu)償功能+（Elcometer 456）時(shi)，可(ke)確(que)保使用(yong)過(guo)程(cheng)中(zhong)任何(he)探頭(tou)蓋的磨損均納入(ru)校(xiao)準(zhun)過(guo)程(cheng)中(zhong)。  該儀器甚至可(ke)通知用(yong)戶何(he)時(shi)更換探頭(tou)蓋。

 

計數平均模式

Elcometer 456 S型和T型均具有計數平(ping)均模式。 一(yi)旦(dan)用戶定(ding)義了一(yi)次點(dian)測過程(cheng)中儀器的單個讀數量，儀器即可將單個讀數平(ping)均值存儲于(yu)內存中。

 

固定數組大小

Elcometer 456高級型具(ju)有的(de)固定(ding)數(shu)組(zu)大(da)(da)小功能可使用戶(hu)定(ding)義(yi)各數(shu)組(zu)中的(de)zui大(da)(da)讀數(shu)量。  一旦(dan)達到zui大(da)(da)讀數(shu)量，儀器將自動開啟與(yu)之前(qian)數(shu)組(zu)相關的(de)新數(shu)組(zu)（名稱—1、名稱—2等）。


符合標(biao)準與測試方法

SSPC PA2要求每次儀器點(dian)測(ce)至少三個讀數，在10m2（~100ft2）范圍內執行五次點(dian)測(ce)。標準與測試方法通常描述儀器一次點測過程中獲取的單一讀數量和/或已確定表面區域內所需的點測量。  

Elcometer 456 S型或T型可設置(zhi)三個(ge)計數(shu)平均值及五(wu)個(ge)固定數(shu)組大小，以滿足此類要求。  各數(shu)組對(dui)應(ying)一個(ge)測量區域。

連接超聲/掃描探頭到已選自(zi)動重復模式(shi)的Elcometer 456 T型后，SSPC PA2（或(huo)類似測試方法）的完(wan)成速(su)度可(ke)提高40%。

 

Elcometer456分體(ti)式涂層測厚儀探頭介紹：

為滿足(zu)客戶的(de)特(te)定應用要求(qiu)，所有的(de)Elcometer 456探頭*可互換，且提供大(da)量的(de)設計與刻度范圍。

  • 平直探頭 – 可在平面和曲面上測量涂(tu)層
  • 微型(xing)探頭 - 是測量邊緣涂層(ceng)、窄管(guan)涂層(ceng)或(huo)小型(xing)表面區域涂層(ceng)的理想產品
  • 直角(jiao)探頭 – 用于測量難(nan)以接近的地方(fang)
  • PINIP™探頭 – 插入式(shi)探頭，可把分體(ti)式(shi)儀(yi)器(qi)轉化(hua)為整體(ti)式(shi)儀(yi)器(qi)
  • 遠端探(tan)頭(tou) – 可(ke)延伸直角探(tan)頭(tou)到(dao)達(da)一般探(tan)頭(tou)難以到(dao)達(da)的地(di)方
  • 超聲/掃描(miao)探(tan)頭 - 這(zhe)些探(tan)頭均裝有可更換(huan)式探(tan)頭蓋-用戶可獲取單個讀(du)數或掃描(miao)大塊(kuai)表面區(qu)域，而不會損壞(huai)探(tan)頭
  • 防水探頭(tou)– 封閉設計，深(shen)水中使(shi)(shi)用，即使(shi)(shi)佩(pei)戴潛水手套也不(bu)影響使(shi)(shi)用
  • 高(gao)溫探(tan)頭 – 可用(yong)在溫度高(gao)達(da)250℃（480℉）的涂(tu)層上
  • 陽極(ji)氧(yang)化(hua)探頭 – 抗(kang)化(hua)學(xue)溶劑腐蝕，非常適合(he)用在陽極(ji)氧(yang)化(hua)環境中
  • 鎧裝探(tan)頭 – 探(tan)頭帶(dai)有(you)重型(xing)金屬(shu)強化(hua)電(dian)纜(lan)(lan)，可降低電(dian)纜(lan)(lan)損壞風險(xian)
  • 軟涂(tu)層探頭(tou) – 大(da)塊面積(ji)表面探頭(tou)，用于檢(jian)測軟性覆蓋材(cai)料（經(jing)HVCA認(ren)證）
  • 專業探(tan)頭(tou) - 這些(xie)探(tan)頭(tou)可用在專業基體上測(ce)量，如：石墨或電鍍組件

鐵基(ji)探(tan)頭(tou)測量鐵磁(ci)基(ji)體(ti)(ti)上的非(fei)磁(ci)性涂層(ceng)厚度(du)。 Elcometer 456鐵基(ji)類儀器(qi)(qi)認(ren)可任(ren)何鐵基(ji)探(tan)頭(tou)。 非(fei)鐵基(ji)探(tan)頭(tou)測量非(fei)鐵基(ji)金(jin)屬基(ji)體(ti)(ti)上的非(fei)導電涂層(ceng)厚度(du)，Elcometer 456非(fei)鐵基(ji)類儀器(qi)(qi)認(ren)可任(ren)何非(fei)鐵基(ji)探(tan)頭(tou)。 兩用(yong)FNF探(tan)頭(tou)可同時(shi)用(yong)于鐵基(ji)和非(fei)鐵基(ji)應(ying)用(yong)，具有自動識別基(ji)體(ti)(ti)功能。 Elcometer 456 FNF類儀器(qi)(qi)認(ren)可所有鐵基(ji)、非(fei)鐵基(ji)以(yi)及兩用(yong)FNF探(tan)頭(tou)。

除非另有說明，Elcometer分體式(shi)探頭需(xu)在(zai)低達150°C（300°F）的環境中使(shi)(shi)用，PINIP探頭需(xu)在(zai)80°C（176°F)的環境下使(shi)(shi)用。

所有Elcometer探頭均(jun)帶有檢測證書以及一套適用于該(gai)探頭刻度范圍的校準(zhun)膜片。

 


量程(cheng)1

測量范圍:

0-1500μm (0-60mils)

精確(que)度*:

±1-3% or ±2.5μm (±0.1mil)

分辨率:

0.1μm: 0-100μm; 1μm: 100-1500μm (0.01mil: 0-5mils; 0.1mil: 5-60mils)

 

探頭(tou)設計(ji)

 

凸面直徑(jing)

凹(ao)面半徑

zui小凈空高度

zui小樣本(ben)半徑†

直探(tan)頭

鐵基

F

T456CF1S

4mm (0.16")

25mm (0.98")

85mm (3.35")

4mm (0.16")

非鐵基

N

T456CN1S

10mm (0.39")

10mm (0.39")

85mm (3.35")

4mm (0.16")

兩用型(xing)

FNF

T456CFNF1S

F Mode: 4mm (0.16")

N Mode: 26mm (1.02")

12.5mm (0.49")

88mm (3.46")

F Mode: 4mm (0.16")

N Mode: 6mm (0.24")

直(zhi)角探(tan)頭(tou)

鐵(tie)基

F

T456CF1R

4mm (0.16")

25mm (0.98")

28mm (1.10")

4mm (0.16")

非鐵基

N

T456CN1R

10mm (0.39")

14mm (0.55")

28mm (1.10")

4mm (0.16")

兩(liang)用型

FNF

T456CFNF1R

F Mode: 4mm (0.16")

N Mode: 26mm (1.02")

12.5mm (0.49")

38mm (1.50")

F Mode: 4mm (0.16")

N Mode: 6mm (0.24")

微型M5-90度(du)探(tan)頭

鐵基(ji)

F

T456CFM5R90A

3mm (0.12")

6.5mm (0.26")

Headroom: 16mm (0.63")

Width: 7mm (0.28")

4mm (0.16")

陽極氧化型

非鐵基

N

T456CN1AS

10mm (1.38")

14mm (0.55")

100mm (3.94")

4mm (0.16")

PINIP探頭

鐵基

F

T456CF1P

4mm (0.16")

60mm (2.36")

170mm (6.69")

4mm (0.16")

非鐵基

N

T456CN1P

10mm (0.39")

50mm (1.97")

180mm (7.09")

4mm (0.16")

兩用型

FNF

T456CFNF1P

F Mode: 4mm (0.16")

N Mode: 26mm (1.02")

65mm (2.56")

180mm (7.09")

F Mode: 4mm (0.16")

N Mode: 6mm (0.24")

 


量(liang)程 2

測量范(fan)圍:

0-5mm (0-200mils)

精(jing)確度(du)*:

±1-3% or ±20μm (±1.0mil)

分辨率:

1μm: 0-1mm; 10μm: 1-5mm (0.1mil: 0-50mils; 1mil: 50-200mils)

 

在稀薄(bo)涂層上須具(ju)有更(geng)高的分辨率和準(zhun)確性(xing)，量程2鐵基探頭(tou)性(xing)能(neng)可轉化為(wei)量程1性(xing)能(neng)

 


量程 3

測量范圍:

0-13mm (0-500mils)

精確度*:

±1-3% or ±50μm (±2.0mils)

分(fen)辨率:

1μm: 0-2mm; 10μm: 2-13mm (0.1mil: 0-100mils; 1mil: 100-500mils)

 

探頭設計(ji)

 

凸面直徑

凹面(mian)半徑

zui小凈(jing)空高度(du)

zui小樣本半徑(jing)†

直探頭(tou)

鐵(tie)基

F

T456CF2S

4mm (0.16")

25mm (0.98")

89mm (3.50")

8mm (0.32")

非鐵基

N

T456CN2S

100mm (3.97")

150mm (5.90")

88mm (3.46")

14mm (0.55")

直(zhi)角探頭

鐵基(ji)

F

T456CF2R

4mm (0.16")

25mm (0.98")

32mm (1.26")

8mm (0.32")

鎧裝探頭

鐵基

F

T456CF2ARM 

4mm (0.16")

25mm (0.98")

138mm (5.43")

8mm (0.32")

可伸縮探頭

鐵基(ji)

F

T456CF2T

4mm (0.16")

25mm (0.98")

36mm (1.42")

8mm (0.32")

軟(ruan)涂層探頭

鐵基

F

T456CF2B

Flat Surface

Flat Surface

89mm (3.50")

8mm (0.32")

防水(shui)探頭

鐵(tie)基(ji)

F

T456CF2SW-15

4mm (0.16")

40mm (1.98")

130mm (5.12")

8mm (0.32")

PINIP探頭

鐵基(ji)

F

T456CF2P

4mm (0.16")

60mm (2.36")

174mm (6.85")

8mm (0.32")

非鐵基(ji)

N

T456CN2P

100mm (3.97")

150mm (5.90")

185mm (7.28")

14mm (0.55")

高溫探頭(tou)

250°C (480°F)

鐵基

F

T456CF2PHT

4mm (0.16")

60mm (2.36")

174mm (6.85")

8mm (0.32")

 


量程 6

測量范(fan)圍:

F: 0-25mm (0-980mils)

精確度*:

±1-3% or ±100μm (±4.0mils)

N: 0-30mm (1200mils)

分辨(bian)率(lv):

10μm: 0-2mm; 100μm: 2-30mm (1mil: 0-100mils; 10mils: 100-1200mils)

 

探頭設計

 

凸面(mian)直徑(jing)

凹面半徑

zui小凈(jing)空高(gao)度

zui小樣本半徑(jing)†

直探(tan)頭

鐵基

F

T456CF3S

15mm (0.59")

40mm (1.57")

102mm (4.02")

14mm (0.55")

PINIP探頭(tou)

鐵基

F

T456CF3P

15mm (0.59")

45mm (1.77")

184mm (7.24")

14mm (0.55")

 

量程 7

范圍： F：

0 - 31mm (0 - 1220mils)

精確度(du)*：

±1-3% or ±100µm (±4.0mil)

分辨(bian)率：

10μm: 0-2mm; 100μm: 2-31mm (1mil: 0-100mils; 10mils: 100-1220mils)

 

探(tan)頭設計

 

凸(tu)面直徑

凹面半徑

zui小凈空高度(du)

zui小(xiao)樣本半徑†

直探頭

鐵基

F

T456CF6S

35mm (1.40")

170mm (6.70")

150mm (5.90")

51 x 51mm²

(2 x 2 sq. inch)

非鐵基

N

T456CN6S

Flat Surface

Flat Surface

160mm (6.30")

58mm (2.30")

鎧裝探頭

鐵基

F

T456CF6ARM

35mm (1.40")

170mm (6.70")

190mm (7.48")

51 x 51mm²

(2 x 2 sq. inch)

非

T456CN6ARM

Flat Surface

Flat Surface

200mm (7.87")

58mm (2.30")

 


量程 0.5

測量范圍:

0-500μm (0-20mils)

精確度*:

±;1-3% or ±2.5μm (±0.1mil)

分辨率(lv):

0.1μm: 0-100μm; 1μm: 100-500μm (0.01mil: 0-5mils; 0.1mil: 5-20mils)

 

探(tan)頭樣式

 

 

 

zui小凈空高(gao)度

zui小樣本直徑(jing)†

鎧裝探(tan)頭

鐵基 F

T456CF7ARM

40mm (1.58")

170mm (6.70")

200mm (7.87")

55 x 55mm² (2.17 x 2.17 sq. inch)

 

刻度0.5石墨

范圍

0-500μm (0-20mils)

精確度*

±1-3%或±2.5μm（±0.1mil）

分(fen)辨(bian)率

0.1μm： 0-100μm；1μm： 100-500μm（0.01mil： 0-5mils；0.1mil： 5-20mils)

 

探頭設計(ji)

 

凸面直徑

凹面半徑(jing)

zui小凈空高度

zui小樣本(ben)半徑†

微型M3探頭

45mm (1.77")

鐵基(ji)

F

T456CFM3---A

1.9mm (0.07")

6.5mm (0.26")

6mm (0.24")

3mm (0.12")

非鐵基N

T456CNM3---A

6mm (0.24")

8.5mm (0.33")

6mm (0.24")

4mm (0.16")

微型M3-90度探頭

45mm (1.77")

鐵(tie)基

F

T456CFM3R90A

1.9mm (0.07")

6.5mm (0.26")

Headroom: 16mm (0.63")

Width: 7mm (0.28")

3mm (0.12")

非(fei)鐵基N

T456CNM3R90A

6mm (0.24")

8.5mm (0.33")

Headroom: 16mm (0.63")

Width: 7mm (0.28")

4mm (0.16")

 

微型M3-45度探(tan)頭(tou)

45mm (1.77")

鐵基F

T456CFM3R45A

1.9mm (0.07")

6.5mm (0.26")

Headroom: 18mm (0.71")

Width: 7mm (0.28")

3mm (0.12")

微型M3-90度角

150mm (5.90")

鐵基F

T456CFM3R90C

1.9mm (0.07")

6.5mm (0.26")

Headroom: 16mm (0.63")

Width: 7mm (0.28")

3mm (0.12")

非(fei)鐵(tie)基N

T456CNM3R90C

6mm (0.24")

8.5mm (0.33")

Headroom: 16mm (0.63")

Width: 7mm (0.28")

4mm (0.16")

 

超(chao)聲/掃(sao)描探頭

范圍: 0-1500μm (0-60mils)+

 

精確度*^: ±1-3% or ±2.5μm (±0.1mil)

分辨率(lv): 1μm: 0-1500μm (0-60mils)

 

 

探頭樣式

 

 

凸面(mian)直徑(jing)

 

凹面半徑

 

zui小凈空高度

 

zui小樣本半(ban)徑

zui小90°石墨
45mm (1.77")

非(fei)鐵基

N

T456CNMG3R90A

6mm (0.24")

8.5mm (0.33")

Headroom: 16mm (0.63")
Width: 7mm (0.28")

4mm (0.16")

zui小90°石墨

150mm (5.90")

非鐵基(ji)

N

T456CNMG3R90C

6mm (0.24")

8.5mm (0.33")

Headroom: 16mm (0.63")
Width: 7mm (0.28")

4mm (0.16")

zui小90°石墨
400mm (15.7")

非(fei)鐵(tie)基

N

T456CNMG3R90E

6mm (0.24")

8.5mm (0.33")

Headroom: 16mm (0.63")
Width: 7mm (0.28")

4mm (0.16")

探頭樣式

 

 

zui小凈空高度

zui小樣本半徑†

超(chao)聲/掃描探頭(tou)

鐵(tie)基F

T456CF1U

85mm (3.50")

5mm (0.59")

兩(liang)用型 FNF

T456CFNF1U

85mm (3.50")

5mm (0.59")

產品信息

 

T456C23956

超聲/掃描(miao)探頭備用保護(hu)蓋（3/包）#


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